HydroFORM半自动腐蚀成像扫查器用于曲面检测领域

HydroFORM半自动腐蚀成像扫查器用于曲面检测领域

半自动HydroFORM扫查器是一种易于部署的双轴编码相控阵（PA）解决方案，可在很短的时间内采集到大表面的高分辨率数据，从而可快速、可靠地进行壁厚成像和壁内损伤检测。

为了优化光栅扫查效率，HydroFORM系统配备了多个提升效率的功能：

集成了X轴和Y轴编码器

智能步进按钮

步进位置和耦合情况指示器

扫查速度核查

高效的气泡管理

易于步进的磁轮

制动系统

这种相控阵解决方案可轻松对外径4英寸（101毫米）或更大的曲面进行检测，可用在许多应用中，包括：

监控因腐蚀、磨蚀和侵蚀而造成的壁厚减薄情况

探测壁内的损伤，如：氢致起泡或制造过程中产生的分层，而且还可轻易将这些异常现象与壁厚减薄情况区别开来

使用HydroFORM和ChainSCANNER对管道进行XY双轴成像的原理。29

用于检测粗糙不平表面的高性能腐蚀成像功能

达到质量堪比水浸槽的相控阵检测水平，而不必担心水耦合问题。HydroFORM扫查器采用独特的低流量水柱设计和贴附在表面的泡棉垫圈，无需使用楔块。

HydroFORM水耦合系统的其他创新功能：

耦合核查LED指示灯会表明供水量过低的情况

可延长使用寿命的垫圈保护框

ScanDeck模块

集成的控制装置和各种状态指示器

ScanDeck模块如同扫查器的控制面板，在您操作HydroFORM扫查器时，直接处于您的视线之内。

使用这种将HydroFORM扫查器和OmniScan X3系列仪器组合在一起的解决方案，可以充分受益于ScanDeck模块的所有功能。

控制按钮：

启动OmniScan X3仪器中的数据采集功能

在导引和徒手扫查模式之间切换

在步进轴和扫查轴扫查之间切换

指示LED灯：

步进位置导引

耦合不足警告

超出最大扫查速度时发出警报

活动的编码器（X轴或Y轴）

完整的相控阵解决方案

HydroFORM扫查器与OmniScan X3系列仪器

HydroFORM扫查器将水柱系统与OmniScan X3软件中相对于界面回波的闸门同步功能相结合，可提供优化的近表面分辨率、精确的测量值，并在缺陷表征方面相比传统UT有了巨大的改进。

闸门可方便地与表面回波同步，以快速评估剩余壁厚

优化的耦合效果

消除了楔块反射和频率过滤问题

提供出色的近表面分辨率

分辨率高达1 mm × 1 mm

启航检测科技（上海）有限公司-无损事业部提供相控阵专业的扫查器，也可以根据客户的要求订制，根据不同工件的检测做标准订制等等